焦點(diǎn)速遞！愛普特 APT32F110 ev board 試用測(cè)評(píng)連載04

目錄

1. ADC概述

2. 例程分析

(資料圖片僅供參考)

輪詢、單次轉(zhuǎn)換模式4

輪詢、連續(xù)轉(zhuǎn)換模式

中斷、單次轉(zhuǎn)換模式

中斷、連續(xù)轉(zhuǎn)換模式

3. 測(cè)評(píng)總結(jié)

1. ADC概述

2. 例程分析

輪詢、單次轉(zhuǎn)換模式

輪詢、連續(xù)轉(zhuǎn)換模式

測(cè)試環(huán)境（面包板存在內(nèi)阻，電源電壓衰減至4.17V）

采樣通道：PA01-AN0

采樣值：2079

實(shí)測(cè)電壓：1.03V

根據(jù)實(shí)測(cè)電壓反推ADC理論采樣值為1.03/4.17*4096 = 1011，與實(shí)際相差較大，目前未查找出原因。

采樣通道：PA03-AN1

采樣值：1550

實(shí)測(cè)電壓：1.558V

根據(jù)實(shí)測(cè)電壓反推ADC理論采樣值為1.558/4.17*4096 = 1530，與實(shí)際采樣值接近，符合預(yù)期。

采樣通道：PB00-AN2

采樣值：2367

實(shí)測(cè)電壓：2.384V

根據(jù)實(shí)測(cè)電壓反推ADC理論采樣值為2.384/4.17*4096 = 2341，與實(shí)際采樣值接近，符合預(yù)期。

中斷、單次轉(zhuǎn)換模式

ADC的中斷觸發(fā)源

該模式和輪詢大體一致，區(qū)別在于設(shè)置上圖紅框中的tAdcConfig.wInt = ADC_INTSRC_SEQ0 | ADC_INTSRC_SEQ1 |ADC_INTSRC_SEQ2;

中斷、連續(xù)轉(zhuǎn)換模式

同上中斷、單次轉(zhuǎn)換模式，只需把byConvMode 改成 ADC_CONV_CONTINU即可。

3. 測(cè)評(píng)總結(jié)

本期測(cè)評(píng)為ADC，通過(guò)用戶手冊(cè)學(xué)習(xí)了模塊的硬件結(jié)構(gòu)和軟件的編程方法。在列舉的四種模式的demo中，對(duì)輪詢、連續(xù)采樣模式作了細(xì)致測(cè)評(píng)。

經(jīng)測(cè)試，連續(xù)采樣時(shí)第一個(gè)通道存在采樣不準(zhǔn)確的現(xiàn)象，在嘗試從多個(gè)方面多次修改程序后依然未解決該問(wèn)題。

關(guān)鍵詞： 修改程序 電源電壓 測(cè)試環(huán)境 用戶手冊(cè)